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| 尊敬的客户，您好 精确测量太阳能电池硅片上的增透膜的厚度和折射率，是生产高性能太阳能电池的先决条件之一。椭偏仪测量因为其快速和非接触光学测量方法，适合用来测量膜厚和折射率。但是，多晶硅的粗糙表面明显降低测量效果，甚至根本不能测量。然而国内绝大部分椭偏仪不能解决该问题，甚至无法测量 合能阳光新近推出的欧洲进口多角度激光椭偏仪(PH-LE型)，可以直接测试绒面片膜厚和折射率，帮助广大太阳能电池片厂家监控和提高生产质量。 如果您有任何疑问和需要，请查阅我司网站，或者致电我司，我们将竭诚为您服务。 合能阳光 馑祝贵公司商祺 咨询 / 销售热线：010--60546837 / 61566011 |
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电池片检测设备：多角度激光椭偏仪(PH-LE型) |
 多角度激光椭偏仪 - 产品特点 ■ 可以测量单晶电池片、多晶电池片 ■ 可以测量抛光片，精确度和准确度极高 ■ 可以测量粗糙表面的“绒片” ■ 适用于对太阳能电池粗糙表面减反膜造成的低反射光强进行测量 ■ 可对太阳能电池粗糙表面减反膜造成的退偏因数（偏振因数）进行测量和评估，提高测量精度 ■ 配置有高稳定度补偿器，提供最小的漂移值和最小的测量误差 ■ 配置有高精度的自动光学对准显微镜 ■ 可进行20°－90°范围内的多角度测量 ■ 欧洲进口产品，优质质量
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