无接触少子寿命扫描仪(HS-MWR-2S3)

无接触少子寿命扫描仪 


合能阳光无接触少子寿命扫描仪(HS-MWR-2S3)功能强大,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描测试,其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的,并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.5μs到300μs,P型电阻率量程为0.8-100Ω.cm,N型电阻率量程为0.5-100Ω.cm,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业不可多得的测量仪器。



无接触少子寿命扫描仪软件



无接触少子寿命扫描仪-产品特点


无接触和无损伤测量
自动测量,具有传送系统,可进行连续测量
快速测量,测试扫描速度达到2000mm/min
测试范围广:包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量
主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查,生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等 
性价比高,极大程度地降低了企业的测试成本


无接触少子寿命扫描仪-推荐工作条件

温度:18-26℃
湿度:10%~80%
大气压:750±30毫米汞柱






无接触少子寿命扫描仪-技术指标

少子寿命测试范围:0.5μs-300μs
测试扫描速度:2000mm/min
测试尺寸:215mm*215mm*400mm
电阻率范围:
P型:0.8Ω.cm-100Ω.cm(范围之外可测量,但将有一定测试偏差)
N型:0.5Ω.cm-100Ω.cm(范围之外可测量,但将有一定测试偏差)
激光波长:980±30nm,测试功率范围:50-500mw
硅棒硅块扫描间距:≥1mm
仪器测试精度:±3.5%,信号处理偏差≤2%
工作频率:10GHz±0.5
微波测试单元功率:0.01W±10%
电源:~220V 50Hz 功耗<200W
主机尺寸:365mm * 645mm *565mm
主机重量:30KG



无接触少子寿命扫描仪-典型用户

英利新能源、晶晶光电、上海清华、蠡县英利、江西晶科、申和热磁、海润光伏、江苏兆晶、成都蓉威、安徽天翊、桂林尚鼎、山东泰岱、扬州金威、辉煌能源